李同保，男，1942年10月生，河南省温县人。1963年毕业于同济大学应用物理专业，1994年5月当选为首批中国工程院院士，所在学部为信息与电子工程学部。曾任中国测试技术研究院院长、中国计量测试学会副理事长等职，现为同济大学教授，博士生导师，国家集成电路微纳检测设备产业计量测试中心（上海）名誉主任。

他长期从事光辐射测量技术与标准研究，二十世纪六七十年代研制了多项光度与辐射测量仪器，满足了当时我国国防与科研的急需；八十年代完成的多项重大科研项目获国家级奖，包括：负责研制的“高照度标准”获1978年全国科学大会奖；“光度基准与光通量副标准”项目获1985年度国家科技进步奖一等奖；主持的“用硅光电二极管自校准技术实现400-900nm光谱辐射绝对测量”项目获1989年度国家科技进步奖一等奖。

1999 年，李同保回母校开创集成电路纳米计量研究方向，共创制了皮米精确度的国家一级标准物质5项。研究成果支撑了国家集成电路微纳检测设备产业计量测试中心（上海）建设。2026 年 7 月，作为第三完成人的“量子化光晶格常数的纳米计量关键技术及集成电路应用”项目获2025年度国家科技进步奖一等奖。